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HASAR, U. C.; KAYA, Y.; BARROSO DE CASTRO, J. J.; ERTUGRUL, M. Determination of reference-plane invariant, thickness-independent, and broadband constitutive parameters of thin materials. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, v. 63, n. 7, p. 2313-2321, July 2015. DOI: <10.1109/TMTT.2015.2431685>. Disponível em: <http://doi.org/10.1109/TMTT.2015.2431685>.
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... como proposto por Hasar et al. (2015).
... pode ser encontrada na literatura (HASAR et al., 2015).